• usp_easy_retunsاسترجاع مجاني وسهل
  • usp_best_dealsأفضل العروض
placeholder
New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices (Micro and Nano Technologies)
magnifyZoom

New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices (Micro and Nano Technologies)

معذرة! هذا المنتج غير متوفر.
متوفر قريبا
نظرة عامة على المنتج

الميزات الأساسية

  • Original Copies - From Publishers

المواصفات

الناشرElsevier
رقم الكتاب المعياري الدولي 10323241433
تنسيق الكتابPaperback
رقم الطبعة1
رقم الكتاب المعياري الدولي 139780323241434
الكاتبZeev Zalevsky, Pavel Livshits, Eran Gur
اللغةEnglish
تاريخ النشر2014
New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices (Micro and Nano Technologies)
New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices (Micro and Nano Technologies)
معذرة! هذا المنتج غير متوفر.
متوفر قريبا

نحن دائماً جاهزون لمساعدتك

تواصل معنا من خلال أي من قنوات الدعم التالية:

تسوق أينما كنت