الناشر | Springer; Softcover Reprint of the Original 1st 2015 ed. edition |
رقم الكتاب المعياري الدولي 10 | 1493947028 |
تنسيق الكتاب | Paperback |
وصف الكتاب | CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range. |
تاريخ النشر | 10 September 2016 |
رقم الكتاب المعياري الدولي 13 | 9781493947027 |
الكاتب | Manjul Bhushan |
اللغة | English |
عن المؤلف | Manjul Bhushan is a technical consultant in New York.Mark Ketchen is a technical consultant in Massachusetts. |
عدد الصفحات | 440 pages |
نحن دائماً جاهزون لمساعدتك
تواصل معنا من خلال أي من قنوات الدعم التالية:
الإلكترونيات
الهواتف المتحركةأجهزة التابلتأجهزة الكمبيوتر المحمولةالأجهزة المنزليةالكاميرات والصور وتسجيل الفيديوالتلفزيوناتسماعات الرأسألعاب الفيديوالأزياء
أزياء نسائيةأزياء رجاليةأزياء البناتأزياء الأولادالساعاتالمجوهراتحقائب اليد النسائيةنظارات الرجالالمطبخ والأجهزة المنزلية
مستلزمات الحمامديكورات المنازلالمطبخ وأدوات الطعامالأدوات وتحسين المنزلأجهزة الصوت والفيديوالأثاثمستلزمات الحدائقمستلزمات الحيوانات الأليفةالجمال
العطورالمكياجالعناية بالشعرالعناية بالبشرة الجسم والإستحمامأدوات الجمال الإلكترونيةمنتجات العناية بالرجالمنتجات الرعاية الصحية