• usp_easy_retunsاسترجاع مجاني وسهل
  • usp_best_dealsأفضل العروض
placeholder
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
magnifyZoom

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization

596.00
nudge icon
توصيل مجاني
nudge icon
توصيل مجاني
noon-marketplace
احصل عليه خلال 31 يوليو
اطلب في غضون 10 ساعة 12 دقيقة

خصم على الدفع

نظرة عامة على المنتج

المواصفات

الناشرSpringer; Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition
رقم الكتاب المعياري الدولي 101441952691
تنسيق الكتابPaperback
وصف الكتابTesting Concepts.- Design Flow.- Design for Test.- Boundary Scan.- SOC Design for Testability.- System Modeling.- Test Conflicts.- Test Power Dissipation.- Test Access Mechanism.- Test Scheduling.- SOC Test Applications.- A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling.- An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions.- Efficient Test Solutions for Core-Based Designs.- Core Selection in the SOC Test Design-Flow.- Defect-Aware Test Scheduling.- An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling under ATE Memory Depth Constraint.
تاريخ النشر2 February 2011
رقم الكتاب المعياري الدولي 139781441952691
الكاتبErik Larsson
اللغةEnglish
عن المؤلفDr. Erik Larsson is an assistant professor at Linköpings University in Sweden, and he is an active member of the IEEE Testing and Circuits & Systems societies
عدد الصفحات410 pages
مجموع السلة  596.00
placeholder
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
596.00
0

نحن دائماً جاهزون لمساعدتك

تواصل معنا من خلال أي من قنوات الدعم التالية:

تسوق أينما كنت

App StoreGoogle PlayHuawei App Gallery

تواصل معنا

mastercardvisatabbytamaraamexcod