• usp_easy_retunsاسترجاع مجاني وسهل
  • usp_best_dealsأفضل العروض

Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanof: Proceedings of the NATO Advanced Study Institute o

478.00
شامل ضريبة القيمة المضافة
nudge icon
توصيل مجاني
nudge icon
توصيل مجاني
noon-marketplace
احصل عليه خلال 31 مايو - 3 يونيو
اطلب في غضون 14 ساعة 28 دقيقة
VIP ENBD Credit Card

التوصيل 
بواسطة نوون
التوصيل بواسطة نوون
البائع ذو
 تقييم عالي
البائع ذو تقييم عالي
الدفع 
عند الاستلام
الدفع عند الاستلام
عملية 
تحويل آمنة
عملية تحويل آمنة
نظرة عامة على المنتج
المواصفات
الناشرSpringer; 2005th edition
رقم الكتاب المعياري الدولي 139781402030185
رقم الكتاب المعياري الدولي 101402030185
الكاتبPaula M Vilarinho
تنسيق الكتابPaperback
اللغةEnglish
وصف الكتابAs the characteristic dimensions of electronic devices continue to shrink, the ability to characterize their electronic properties at the nanometer scale has come to be of outstanding importance. In this sense, Scanning Probe Microscopy (SPM) is b
تاريخ النشر21 February 2005
عدد الصفحات488 pages
مجموع السلة  478.00

نحن دائماً جاهزون لمساعدتك

تواصل معنا من خلال أي من قنوات الدعم التالية:

تسوق أينما كنت

App StoreGoogle PlayHuawei App Gallery

تواصل معنا

mastercardvisatabbytamaraamexcod