الناشر | Springer; Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition |
رقم الكتاب المعياري الدولي 10 | 1441922091 |
تنسيق الكتاب | Paperback |
وصف الكتاب | Fundamentals of Scanning Electron Microscopy (SEM).- Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials Characterization.- X-ray Microanalysis in Nanomaterials.- Low kV Scanning Electron Microscopy.- E-beam Nanolithography Integrated with Scanning Electron Microscope.- Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanostructure Characterization.- to In-Situ Nanomanipulation for Nanomaterials Engineering.- Applications of FIB and DualBeam for Nanofabrication.- Nanowires and Carbon Nanotubes.- Photonic Crystals and Devices.- Nanoparticles and Colloidal Self-assembly.- Nano-building Blocks Fabricated through Templates.- One-dimensional Wurtzite Semiconducting Nanostructures.- Bio-inspired Nanomaterials.- Cryo-Temperature Stages in Nanostructural Research. |
عدد الصفحات | 538 pages |
رقم الكتاب المعياري الدولي 13 | 9781441922090 |
الكاتب | Weilie Zhou |
اللغة | English |
تاريخ النشر | 29 October 2010 |
نحن دائماً جاهزون لمساعدتك
تواصل معنا من خلال أي من قنوات الدعم التالية:
الإلكترونيات
الهواتف المتحركةأجهزة التابلتأجهزة الكمبيوتر المحمولةالأجهزة المنزليةالكاميرات والصور وتسجيل الفيديوالتلفزيوناتسماعات الرأسألعاب الفيديوالأزياء
أزياء نسائيةأزياء رجاليةأزياء البناتأزياء الأولادالساعاتالمجوهراتحقائب اليد النسائيةنظارات الرجالالمطبخ والأجهزة المنزلية
المطبخ وأدوات الطعاممستلزمات السريرمستلزمات الحمامديكورات المنازلالأجهزة المنزليةالأدوات وتحسين المنزلمستلزمات الحدائقمستلزمات الحيوانات الأليفةالجمال
العطور النسائيةعطور الرجالالمكياجالعناية بالشعرالعناية بالبشرة الجسم والإستحمامأدوات الجمال الإلكترونيةمنتجات العناية بالرجال