• usp_easy_retunsاسترجاع مجاني وسهل
  • usp_best_dealsأفضل العروض
placeholder
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications
magnifyZoom

Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications

معذرة! هذا المنتج غير متوفر.
متوفر قريبا
نظرة عامة على المنتج

المواصفات

الناشرSpringer; Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition
رقم الكتاب المعياري الدولي 101441922091
تنسيق الكتابPaperback
وصف الكتابFundamentals of Scanning Electron Microscopy (SEM).- Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials Characterization.- X-ray Microanalysis in Nanomaterials.- Low kV Scanning Electron Microscopy.- E-beam Nanolithography Integrated with Scanning Electron Microscope.- Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanostructure Characterization.- to In-Situ Nanomanipulation for Nanomaterials Engineering.- Applications of FIB and DualBeam for Nanofabrication.- Nanowires and Carbon Nanotubes.- Photonic Crystals and Devices.- Nanoparticles and Colloidal Self-assembly.- Nano-building Blocks Fabricated through Templates.- One-dimensional Wurtzite Semiconducting Nanostructures.- Bio-inspired Nanomaterials.- Cryo-Temperature Stages in Nanostructural Research.
عدد الصفحات538 pages
رقم الكتاب المعياري الدولي 139781441922090
الكاتبWeilie Zhou
اللغةEnglish
تاريخ النشر29 October 2010
مجموع السلة 0.00
placeholder
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications
معذرة! هذا المنتج غير متوفر.
متوفر قريبا

نحن دائماً جاهزون لمساعدتك

تواصل معنا من خلال أي من قنوات الدعم التالية:

تسوق أينما كنت

App StoreGoogle PlayHuawei App Gallery

تواصل معنا

madamastercardvisatabbytamaraamexcod
شركة حلول نون للتسويق الالكتروني شركة شخص واحد ش.ذ.م.م1010703009 السجل التجاري302004655210003 الرقم الضريبي